CCIT真空衰减法检漏仪 容器密闭完整性测试

微泄漏无损密封试验仪适用于包装物密封性测试，仪器采用真空/压力衰减法测试原理，完全无损检测技术，满足ASTM测试方法和FDA标准。高精度CCIT测试技术能够检测到微型小孔的泄漏。适用于各种空的/预充式 注射器、水针及粉针瓶(玻璃/塑料)、灌装压盖瓶、奶粉罐、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。广泛被制药厂家、第三方检测机构、药检机构等使用。

真空衰减法测试原理
将待测包装容器放入测试腔体，对测试腔体抽真空，容器内外压差使得容器内气体通过漏孔进入测试腔体，真空衰减法检漏仪内的压力传感器监测到压力的改变，将该压力值和参考压力值做比较，以判定包装容器是否泄漏。通过微型流量计建立压力和漏孔之间的关系，从而可以获得包装容器的漏孔大小。
 
真空衰减法测试方法
1.将试样放入测试腔体，根据设定的真空度对测试腔进行抽真空。在抽真空阶段，如果包装内气体大量外溢，无法达到预设真空，则表示包装密封性较差。
2.如果可以达到预设真空，但是会在平衡阶段出现气压上升，则表示包装密封性有中度泄漏。
3.如果顺利通过真空，但是在到达测试阶段的时候，实际真空衰減率值大于参考真空衰減率值，则表示包装有轻微泄漏。
4.当抽真空完成后，如果顺利通过所有阶段，腔体内压力无明显上升，则表示包装密封完整无泄漏。
 
真空衰减法测试范围
适用于安瓿瓶、西林瓶、注射剂瓶、冻干粉针剂瓶；粉末、片剂、胶囊、隐形眼镜等采用泡罩的包装形式的产品以及预灌封包装样品的微泄漏和包装密封完整性测试。