paratronix（普创）硬质包装容器电器元件微泄漏无损密封测试仪MLT-V100
详细信息
| | 品牌：paratronix（普创） | | 型号：MLT-V100 | | 加工定制：是 | |
| | 测量范围：0-30N | | 测量精度：优于0.5级 | | | |
硬质包装容器电器元件微泄漏无损密封测试仪MLT-V100
产品介绍：
MLT-V100 型微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。适用于各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶（玻璃/塑料）、灌装压盖瓶、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准（软件或测试夹具）定制。
执行标准：
《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》
《USP1207美国药典标准 》
《药品GMP指南——无菌药品》11.1密封完整性测试
《中国药典》2020年版四部 微生物检查法
《化学药品注射剂包装系统密封性研究技术指南（试行）》
测试原理：
通过标准腔与测试腔的压力比对，来判定测试腔是否存在气体泄漏。
基准容器和被测容器都是确保密封不存在泄漏的，将试样放入被测容器后，由于试样的气体泄漏导致被测容器的压力变化，通过差压传感器检测到压力的变化量，再通过公式计算可推导出泄漏孔径和泄漏流量
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